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TOF技术与结构光技术的区别。
苹果激光雷达扫描仪和工业激光扫描仪都采用三维扫描技术，但苹果采用TOF技术，工业激光扫描仪采用结构光技术。在本视频中，我们将介绍TOF技术和结构光技术的区别。
TOF是一种利用光的飞行时间的光学测距方法。TOF激光雷达主要由发射器、接收器和高精度定时器组成。发射器发射调制激光束，到达物体表面并反射回接收器。
TOF技术有两种调制形式直接飞行时间调制和间接飞行时间调制。其中，直接飞行时间测量采用脉冲调制，间接飞行时间测量采用连续波调制。
脉冲调制方式一般采用方波脉冲，通过定时器直接计算脉冲发射和接收的时间差来获得距离。这种测量方法简单、反应灵敏，但对硬件要求较高。
连续波调制法一般采用连续正弦调制，通过光源连续发射调制红外激光束，在测量物体表面反射后，部分光返回原路被接收。探测器。由于发射信号和接收信号之间存在相位差，因此可以通过相位检测技术间接计算出光飞行时间的差异。
基于结构光方法的3D重建主要利用光学三角测量的原理来计算物体的深度信息。它主要通过扫描光源光学传感器与反射点之间形成的三角关系，计算出目标物体的深度信息，实现目标物体的3D重建。
结构光技术更适合远距离检测，精度更高，因此在人脸识别、工业检测等领域得到更广泛的应用。TOF技术因其更远的测量范围、更高的图像采集速率和帧率而在汽车雷达和人体运动识别方面有更多的应用。
两种技术在各个领域都具有独特的优势。激光光源是国内激光光源专业公司。别忘了点赞和关注哦！
光学干涉仪的测量原理是什么？干涉仪是一种利用干涉原理测量光路差异以确定相关物理量的光学仪器。两条相干光线之间的光程差的变化非常敏感地导致干涉图案的移动，而特定相干光线的光路的变化是由其所经过的几何路径的变化引起的。或者，它是介质的折射率，因此通过干涉，条纹的移动可以用来测量几何长度或折射率的微小变化，然后可以用来测量其他相关的物理量。测量精度取决于测量光程差的精度，干涉图样每移动1个条纹节距，光程差就改变1个波长~10-7m，因此干涉仪以光程差为单位进行测量。光波波长的测量精度水平是任何其他测量方法都无法比拟的。
白光干涉测量的主要功能观察、分析和应用
光学测量技术有哪些特点？光学测量仪又称光学投影比较仪，是利用光学投影原理将被测工件的轮廓或表面投影到观察屏幕上进行测量或比较的测量仪器。光学测量装置快速读取光学尺的位移值，并通过软件模块中基于空间几何的计算，立即得到所需的结果，并在屏幕上生成图形，供操作者与图像进行比较彼此，通过它可以进行图像测量。该仪器可以直观地识别光学测量设备的测量结果可能出现的偏差。
光学测量装置在测量投影仪的基础上实现了质的飞跃，将工业测量方式从传统的光学投影对位升级为基于数字成像时代的计算机屏幕测量。值得一提的是，目前市场上存在同时包含数字显示屏和计算机的过渡产品。克服现有投影仪的缺点，可将被测物体的图像直接输入计算机进行数字化，并在计算机或显示屏上创建图像，更直观地了解产品的形状、尺寸和尺寸。简单明了。执行2D测量。实用又方便。
光学测量设备的硬件配置主要包括CCD图形元件、视频采集卡支持的图形元件、数字采集卡的传输速度、导轨的精度、光学镜头的成像质量、照明合理，机器整体结构小巧稳定，和谐吗？
然而，光学测量设备行业目前缺乏统一的性能评价方法。各个制造商往往根据自己的企业标准进行评估。这给选型造成了一定难度，也不利于行业发展。用于制造光学测量仪器每个块规的材料质量直接影响尺寸稳定性，因此在制造或购买块规时必须仔细考虑光学测量仪器的材料，如下。一些特点1.标准尺寸不受环境变化影响。2、必须耐磨、耐腐蚀。3、形状、尺寸、尺寸、厚度等必须实用。4、光学测量设备的标准尺寸和表面精度的精度要求应高于规范标准。
它是一款可以解决印刷电路板（PCB）测量题的高性能光学测量机，具有二维精密测量、高速、高精度的特点，并且可以在单机上执行多种功能。节省经常性机器购买成本和空间使用成本。2D精密测量和程序编辑系统可以测量塑料硬件、PCB板、薄膜或其他具有2D特性的物体。您可以测量对象的圆心、半径、线宽、夹角、距离和交点。CNC二维系列具有批量自动测量和程序编辑功能，系统包含去毛刺等图像处理功能。此外，还具有统计分析、自动对焦、自动检测等功能。检测软件在Windows环境下开发，具有编辑、绘图、图像显示等功能，系统操作简单、灵活。适用于工业二维复制、绘图、工程开发、各种精密电子、模具、五金塑胶、PCB板、导电橡胶。
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